TEK KRİSTAL X-IŞINLARI DİFRAKTOMETRESİ (XRD)

X-Işınları difraktometresi yüksek enerjili, düşük dalgaboylu elektromanyetik ışımalarla organik, inorganik ve organometalik bileşiklerin kristal yapılarının aydınlatılmasında yaygın olarak kullanılmasının yanı sıra kayaç, maden ve mineral analizleri, boya ve kimya endüstrisinde kullanılan malzemelerin analizleri, böbrek ve safra taşları analizi gibi ölçümleri de yapılabilmektedir.

Merkezimizde bulunan X-ışınları difraktometresi ile moleküllerin yüksek hassasiyet ve çözünürlükte tek kristal yapı analizleri yapılabilmektedir.

Teknik Özellikler:
Marka/ Model: Bruker / D8 QUEST
X-Işını Kaynağı: Molibden (Mo)
Gonyometre: 4-eksenli (phi=360°, omega, theta ve kappa=180°)
Dedektör: Yüksek hassasiyete sahip PHOTON III C14

Akademik Danışman: Doç. Dr. Onur ŞAHİN (Tel: 0368 2715248 / 6520)
Laboratuvar Sorumlusu: Öğr. Gör. Dr. Fatih BULUT (Tel: 0368 2715644 / 6116, 6122)
Laboratuvar Yardımcı Personeli: Banu TURHAN ERGÜN (Tel: 0368 2715644 / 6157)